随着第三代半导体材料在新能源汽车、光伏逆变器、轨道交通等高频高温高功率场景中的规模化应用，碳化硅（SiC）器件的长期可靠性问题日益成为产业关注的焦点。在众多可靠性评估项目中，碳化硅器件功率循环测试热