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深度解析PCB 耐压测试爬电距离不足击穿风险分析——从失效机理到检测判据的工程实践

深度解析PCB 耐压测试爬电距离不足击穿风险分析——从失效机理到检测判据的工程实践

在印制电路板(PCB)的可靠性检测体系中,耐压测试(Hi-pot测试)是评估绝缘结构完整性的关键手段之一。当施加的测试电压超过绝缘介质的耐受阈值时,轻则出现漏电流超标,重则发生不可逆的击穿失效。而