随着科技的不断发展，电子产品的性能与稳定性逐渐成为市场竞争的关键因素。为了确保电子元器件在不同环境下的可靠性，过程控制系统进行热循环寿命测试已经成为行业的标准之一。特别是符合JEDEC JESD22-